CEI EN IEC 61788-17
CEI Classification: 90-63
Parte 17: Misura delle caratteristiche elettroniche - Densità di corrente critica locale e sua distribuzione nei film superconduttori di grande superficie


Sebbene sia possibile misurare Jc in campi magnetici CC applicati, lo scopo della presente Norma è limitato alla misurazione senza campi magnetici CC.
Questa tecnica misura intrinsecamente la corrente critica del foglio che è il prodotto di Jc e lo spessore del film d. La gamma e la risoluzione di misurazione per Jcd di pellicole HTS sono le seguenti:
- Jcd: da 200 A/m a 32 kA/m (in base ai risultati, non limitativo);
- risoluzione di misura: 100 A/m (basato sui risultati, non su limitazioni).
La Norma in oggetto sostituisce completamente la Norma CEI EN 61788-17:2013-10, che rimane applicabile fino al 02-06-2024.
Questa Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese in quanto particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC.
Relations
International Coding Standard (ICS)
* Including measuring instruments, instrument transformers
* Electric energy meters in buildings, see 91.140.50